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紫外/可見分光光度計
簡要描述：紫外/可見分光光度計EMC-NANO-UV 為德國emclab制造，品質(zhì)*。所有儀器在交付時都將隨附已經(jīng) DAkkS* 校準過的標準物質(zhì)，幾乎可為所有應(yīng)用提供石英玻璃、光學(xué)玻璃、塑料等不同材質(zhì)的比色皿。
產(chǎn)品型號：EMC-NANO-UV- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時間：2024-09-25
- 訪 問 量：1577
紫外/可見分光光度計 儀器特點：
EMC-NANO-UV
-樣品體積為 0.2~2.0µl的新型NANO比色皿 +10x10 mm比色皿托架
-簡單易用
-水平光路 - 無能量損耗
紫外/可見分光光度計 EMC-NANO-UV 詳細參數(shù)：
Wavelength Range：190-1100 nm
Spectral Bandwidth：4 nm
Optical System：Single Beam, grating 1200 lines/mm
Wavelength Accuracy：±0.5 nm
Wavelength Repeatability：0.3 nm
Photometric Accuracy：≤±0.5 % T or ±0.004A@1A
Photometric Range：0-200 % T, -0.3 - 3A, 0-9999 Conc.
Scan Speed：Hi, MED, LOW – MAX: 3000nm/min
Stray Light：0.05 % T@220, 340 nm
Stability：±0.002A/h@500 nm
Baseline Flatness：±0.002A (200-1000 nm)
Noise：0.0005A@500 nm
Detector：Silicone Photodiode
Display：LCD 320*240
Central beam height：15 mm
Flip Cell Holder：0.2~2.5 μl and cuvette 10 mm path length
Light Source：Tungsten & Deuterium lamp
Power Requirement：AC 110/220V 50/60 Hz
Dimensions：(LxH) 490 x 370 x 220 mm
Weight：14kg
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